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한글기자재명 :
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영문기자재명 :
 Atomic Force Microscope
제작사 :
 Digital instrument
모델명 :
 Near-field optical microscope
시스템구성 :
 Microscope, PC
도입일시 :
 1999년 5월
원리 및 특징 :
 4탐침이 장착된 cantilever 진폭을 20-100nm, 수백 KHz의 진동수(30KHz-1MHz)로 진동시키면서 탐침이 시료 표면에 접촉할 때까지 근접시킨다.
탐침이 시료 표면을 천천히 주사 (1sec/scan line)하는 동안 탐침과 시료와의 거리를 일정하게 유지시킨다. 그 원리는 초기 설정한 진폭을 일정하게 유지하기 위하여 cantilever위에 레이저 빔을 위치시키고 이 레이저 빔의 반사값을 photodetector로 읽은 다음에 feed back control loop에 의하여 시료와 탐침의 거리를 일정하게 제어한다. 이때 탐침의 높이 변화를 시료의 높이 변화에 정확히 일치시키므로 이값을 컴퓨터에 저장한 다음 3차원의 영상으로 바꾸어 준다.
사용예 :
 생물시료의 구조 측정
주요성능 :
 ① 시료의 전처리가 거의 필요 없으며, 시료의 파괴나 손실이 없음
② 시료의 높이와 깊이 측정이 가능하여 삼차원 영상분석이 용이
③ Nanoscale의 배율까지 측정 (25~1,000만배)
④ Inverted 현미경과 동시에 사용되어 광학현미경의 장점을 모두 활용가능
이미지 :